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SXT53410BE17-25.000M,5032mm晶體,SUNTSU測試設備晶振

頻率：25.000MHz

尺寸：5.0x3.2mm

SXT53410BE17-25.000M,5032mm晶體,SUNTSU測試設備晶振，美國Suntsu晶振，松圖晶振，型號：SXT534系列，編碼為：SXT53410BE17-25.000M，頻率為：25.000MHz，負載電容：10pF，頻率穩(wěn)定性：±30ppm，頻率容差：±15ppm，工作溫度范圍：-10℃至+70℃，小體積晶振尺寸：5.0x3.2mm，石英晶體諧振器，四腳貼片晶振，無源晶振，石英晶振，SMD石英晶體，SMD晶振。進口晶振，具有超小型晶振，輕薄型晶振，高性能晶振，高品質(zhì)等特點。應用于：通信和測試設備，PCMCIA，無線應用程序，高密度應用。

訂購熱線：86-0755-27838351

SXT53410BE17-25.000M,5032mm晶體,SUNTSU測試設備晶振,參數(shù)表

Electrical Parameters	Units	Minimum	Typical	Maximum	Remarks
Frequency Range	MHz	25			AT-Cut Fundamental.
Frequency Range	MHz	40		125	3rd Overtone
Frequency Tolerance at +25ºC	ppm	-10		+10	See part numbering guide for options.
Frequency Stability vs. Op Temp	ppm	-10		+10	See part numbering guide for options.
Frequency Stability vs. Aging	ppm	-3		+3	First year @ +25ºC.
Operating Temperature	°C	-40		+85	See part numbering guide for options.
Storage Temperature	°C	-40		+125
Load Capacitance	pF	7		30	See part numbering guide for options.
Shunt Capacitance	pF			7
Drive Level	µW		10	100
Insulation Resistance	MΩ	500			@ 100VDC ± 15V.
8.000MHz~11.999MHz	Ω			100	AT-Cut Fundamental
12.000MHz~19.999MHz	Ω			80	AT-Cut Fundamental
ESR- 20.000MHz~29.999MHz	Ω			70	AT-Cut Fundamental
30.000MHz ~54.000MHz	Ω			50	AT-Cut Fundamental
40.000MHz~125.000MHz	Ω			80	3rd Overtone

SXT53410BE17-25.000M,5032mm晶體,SUNTSU測試設備晶振,尺寸圖

晶振解決方案	型號	頻率	負載	工作溫度	頻率穩(wěn)定度
SXT53410AA07-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	0°C - +70°C	±50ppm
SXT53410BD27-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-20°C - +70°C	±30ppm
SXT53410BE07-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	0°C - +70°C	±30ppm
SXT53410BE16-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-10°C - +60°C	±30ppm
SXT53410BE17-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-10°C - +70°C	±30ppm
SXT53410BE27-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-20°C - +70°C	±30ppm
SXT53410CC07-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	0°C - +70°C	±25ppm
SXT53410CC16-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-10°C - +60°C	±25ppm
SXT53410CC17-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-10°C - +70°C	±25ppm
SXT53410CC27-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-20°C - +70°C	±25ppm
SXT53410CD07-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	0°C - +70°C	±25ppm
SXT53410CD16-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-10°C - +60°C	±25ppm
SXT53410CD17-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-10°C - +70°C	±25ppm
SXT53410CD27-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-20°C - +70°C	±25ppm
SXT53410CE07-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	0°C - +70°C	±25ppm
SXT53410CE16-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-10°C - +60°C	±25ppm
SXT53410CE17-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-10°C - +70°C	±25ppm
SXT53410CE27-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-20°C - +70°C	±25ppm
SXT53410DD07-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	0°C - +70°C	±20ppm
SXT53410DD16-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-10°C - +60°C	±20ppm
SXT53410DD17-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-10°C - +70°C	±20ppm
SXT53410DD27-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-20°C - +70°C	±20ppm
SXT53410DE07-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	0°C - +70°C	±20ppm
SXT53410DE16-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-10°C - +60°C	±20ppm
SXT53410DE17-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-10°C - +70°C	±20ppm
SXT53410DE27-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-20°C - +70°C	±20ppm
SXT53410EE07-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	0°C - +70°C	±15ppm
SXT53410EE16-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-10°C - +60°C	±15ppm
SXT53410EE17-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-10°C - +70°C	±15ppm
SXT53410EE27-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-20°C - +70°C	±15ppm
SXT53410FE07-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	0°C - +70°C	±10ppm
SXT53410FE16-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-10°C - +60°C	±10ppm
SXT53410FE17-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-10°C - +70°C	±10ppm
SXT53410FE27-25.000M	SXT534	25.000M	10pF	-20°C - +70°C	±10ppm

SXT53410BE17-25.000M 5032mm晶體 SUNTSU測試設備晶振

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